Servicekrystallografi
DTU Kemi udfører røntgenkrystallografi, som er en metode, der undersøger atomopbygningen af stoffer i fast fase, såsom krystaller eller fibre. Når en krystal eller fiber bestråles med røntgenstråler, dannes et diffraktionsmønster. En analyse af dette mønster giver information om den tredimensionelle opstilling af atomer i materialet.
Til dette formål anvender DTU Kemi XtaLAB Synergy-S Rigaku diffraktometeret, som består af et fire-cirkel kappa-goniometer kombineret med en HyPix-Arc 100°, Hybrid Photon Counting (HPC) detektor og enkeltmikrofokuserede forseglede røntgenkilder (Cu λ = 1,54184 Å) med højpræcisions flerlags spejlfokuseringsoptik. Dette anvendes til at løse røntgen-enkeltkrystalstrukturer af både små molekyle- og proteinkrystaller. Diffraktometeret er udstyret med et cryokølingssystem, der kan dække temperaturer fra -173 til 202 °C. Enkeltkrystalprøverne (<0,2 mm)="" monteres="" enten="" på="" en="" glasspids="" eller="" i="" en="" løkke,="" som="" placeres="" på="" et="">
Vi tilbyder at løse strukturer for såvel forskningsinstitutioner som for industrielle virksomheder.
For yderligere information kontakt: Mariusz Kubus makub@kemi.dtu.dk.
DTU Kemi tilbyder også omfattende pulverdiffraktionsanalyseydelser.
Vi anvender tredje generation af Empyrean, Malvern Panalytical diffraktometer udstyret med en 1Der-detektor specielt designet til at undersøge de krystallografiske egenskaber af pulveriserede materialer (Cu λ = 1,5406 Å). Diffraktometeret fungerer i reflektionstilstand med et 2θ-område fra 3° til 168°
og transmissionstilstand med et 2θ-område fra 0,5 til 80°. Anton Paar TTK 600-kammeret tillader prøveundersøgelser i temperaturer mellem 100K og 873 K (-173°C og 600 °C) og under ikke-omgivende forhold.
Denne metode indebærer bestråling af en prøve med røntgenstråler og analyse af det resulterende diffraktionsmønster for at få information om de forbindelser (krystallografiske faser), der er til stede i prøven, identifikation af urenheder, enhedscelleparametre og krystallitternes størrelse.
Vores ekspertise omfatter:
- Analyse af en bred vifte af pulverprøver, herunder MOF'er, keramik, mineraler, nanomaterialer og lægemidler.
- Anvendelse af avancerede teknikker som Rietveld-forfining til nøjagtig strukturel analyse.
- Tilbud om ekspertfortolkning af diffraktionsdata og assistance til at vælge de optimale måleparametre baseret på specifikke prøver og forskningsspørgsmål.
Kontakt
Mariusz Grzegorz Kubus Instrumentation Manager Institut for Kemi Mobil: 93518974 makub@kemi.dtu.dk
Supporting Computer Programs:
MyCrystals
The program is developed by Monika Nøhr Løvgreen, Mikkel Løvgreen, Hans E. M. Christensen and Pernille Harris at the Department of Chemistry at the Technical University of Denmark. Journal of Applied Crystallography has accepted a descriptive note of the program: J. Appl. Cryst. (2009) 42, 741-742.
Version: 08/02/2010
Winprep
Program for visualising and handling powder diffraction patterns. The program is developed by Kenny Ståhl.
Version: 29/7/2011
Debye
Simulation program for powder diffraction. The Debye simulation program calculates the XRPD pattern from a crystalline sample by summing over all interatomic distances as stated by the Debye equation (Debye, Ann. Phys. 46 (1915) 809. The program is developed by Jette Oddershede and Kenny Ståhl.
Version: 03/12/2007
Manual Download