Servicekrystallografi

DTU Kemi udfører røntgenkrystallografi, som er en metode, der undersøger atomopbygningen af stoffer i fast fase, såsom krystaller eller fibre. Når en krystal eller fiber bestråles med røntgenstråler, dannes et diffraktionsmønster. En analyse af dette mønster giver information om den tredimensionelle opstilling af atomer i materialet.

Til dette formål anvender DTU Kemi XtaLAB Synergy-S Rigaku diffraktometeret, som består af et fire-cirkel kappa-goniometer kombineret med en HyPix-Arc 100°, Hybrid Photon Counting (HPC) detektor og enkeltmikrofokuserede forseglede røntgenkilder (Cu λ = 1,54184 Å) med højpræcisions flerlags spejlfokuseringsoptik. Dette anvendes til at løse røntgen-enkeltkrystalstrukturer af både små molekyle- og proteinkrystaller. Diffraktometeret er udstyret med et cryokølingssystem, der kan dække temperaturer fra -173 til 202 °C. Enkeltkrystalprøverne (<0,2 mm) monteres enten på en glasspids eller i en løkke, som placeres på et goniometerhoved.

Vi tilbyder at løse strukturer for såvel forskningsinstitutioner som for industrielle virksomheder.

For yderligere information kontakt: Mariusz Kubus makub@kemi.dtu.dk.

DTU Kemi tilbyder også omfattende pulverdiffraktionsanalyseydelser.

Vi anvender tredje generation af Empyrean, Malvern Panalytical diffraktometer udstyret med en 1Der-detektor specielt designet til at undersøge de krystallografiske egenskaber af pulveriserede materialer (Cu λ = 1,5406 Å). Diffraktometeret fungerer i reflektionstilstand med et 2θ-område fra 3° til 168°

og transmissionstilstand med et 2θ-område fra 0,5 til 80°. Anton Paar TTK 600-kammeret tillader prøveundersøgelser i temperaturer mellem 100K og 873 K (-173°C og 600 °C) og under ikke-omgivende forhold.

Denne metode indebærer bestråling af en prøve med røntgenstråler og analyse af det resulterende diffraktionsmønster for at få information om de forbindelser (krystallografiske faser), der er til stede i prøven, identifikation af urenheder, enhedscelleparametre og krystallitternes størrelse.

Vores ekspertise omfatter:

 

• Analyse af en bred vifte af pulverprøver, herunder MOF'er, keramik, mineraler, nanomaterialer og lægemidler.
• Anvendelse af avancerede teknikker som Rietveld-forfining til nøjagtig strukturel analyse.
• Tilbud om ekspertfortolkning af diffraktionsdata og assistance til at vælge de optimale måleparametre baseret på specifikke prøver og forskningsspørgsmål.